Next Level Qualitätskontrolle von Oberflächen

Speziell designte, funktionale Oberflächen sind die Basis für eine Vielzahl von innovativen Produkten. Die Bandbreite der Oberflächen-vermittelten Produkteigenschaften ist groß und reicht von Abriebbeständigkeit über Korrosionsschutz, Leitfähigkeitserhöhung, antimikrobieller Aktivität bis hin zum Fälschungsschutz.

Moderne Methoden der Oberflächenanalytik ermöglichen eine Untersuchung der mechanischen, elektrischen, physikalischen und morphologischen Oberflächeneigenschaften bis in den submikroskopischen oder gar atomaren Bereich. Somit unterstützt die Oberflächenanalytik die Produktentwicklung, ist aber auch in der Prozesskontrolle und Qualitätssicherung unerlässlich. Bereits geringste Kontaminationen und Defektstellen von Materialien, Werkstücken, Bauteilen werden detektierbar.

3D-optische Profilometer basierend auf Konfokal-, Interferometrie-, Ai-Fokusvariation, Reflektometrie und Streifenprojektionstechniken eignen sich zur Vermessung der Oberflächenrauigkeit und Fehlstellenidentifikation. Schnelligkeit und ein guter Einblick über größere Probenbereiche sind Vorteile dieser optischen Messtechnik. Höhere laterale Auflösungen bis in den einstelligen Nanometerbereich und Detailinformationen zu mechanischen und elektrischen Eigenschaften können mit Rasterkraftmikroskopie erreicht werden. Jede der beiden Techniken hat ihre spezifischen Vorteile und gleicht Limitationen der anderen Methode aus. Die innovative Kombination der beiden Messverfahren ermöglicht damit die Beantwortung einer ganz neuen Bandbreite von Fragestellungen.

Die NanoRoadshow zeigt konkrete Produkt- und Anwendungsfälle aus Industrie und Forschung , die durch die Kombination aus optischen Messsystemen von Sensofar mit Rasterkraftmikroskopen von Nanosurf beantwortet werden. Holen Sie sich für Ihre eigenen Oberflächen-Fragestellung aus der Sicherheitstechnik, Medizintechnik, Elektronik, Produktionskontrolle, Nanometrologie und Beschichtungen Lösungsimpulse von unseren Fachexperten. Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme.

Weitere Informationen: https://nanoinitiative-bayern.de/cluster-nanotechnologie/veranstaltungen-messen/vorschau/nanoroadshow

Kontakt: Dr. Anna Sauer (anna.sauer(at)nanoinitiative-bayern.de)